XF-S6 2024款是西凡仪器在2024年针对S6的一款升级版X射线荧光光谱仪,可广泛应用于贵金属产业链、电镀产业链、宝石产业链等行业。该产品采用美国进口定制Fast-SDD探测器,多准直器多滤光片,内置12核十二线程CPU工控电脑,采用西凡第二代X射线与可见光共焦点垂直光路以及Smart FP算法。其同时支持贵金属成分分析、宝石成分分析、RoHS检测、镀层厚度分析、矿石成分分析和离子浓度分析等,检测速度快,测试稳定性好、准确性高。
XF-S6 2024产品手册点击下载 >>铝(No.13)~铀(No.92)
±0.01%(9999金)
更小的X射线激发焦点
ϕ0.5mm/ ϕ1.5mm
配备进口Fast-SDD探测器
贵金属合金/镀层/宝石/珍珠/液体/矿石粉末/RoHS