XF-S7贵金属成分无损检测仪是西凡仪器面向贵金属成分无损检测的一款高配置X射线荧光光谱仪，可广泛应用于珠宝首饰工厂、展厅以及回收、银行、海关、检测中心等行业和单位。该产品采用目前最先进的进口Fast-SDD探测器，自带IPS液晶屏及电容触摸屏，内置四核CPU定制XRF工控电脑，采用全新的垂直光路。检测速度快，测试稳定性好、准确性高。
元素检测范围：铝(No.13)～铀(No.92)
可支持最多30个元素同时计算
分析范围：0.01%～99.99%
检测精度：±0.01%(999金)
检测样品：固体/液体/粉末
定制TCP/IP协议API接口，支持外网对设备的控制、状态监控及数据采集
支持多点连续测试，测试效率高
内置ARM四核XRF专用电脑+Linux系统，无惧木马和病毒软件
9.7寸IPS液晶屏+电容触摸屏
三准直器自动切换
多滤光片自动切换
软件对焦样品测试高度，算法补偿测试距离
ϕ0.5mm准直器支持凹位样品检测
选装10工位转盘，自动连续测试10个样品
核心特征：可测戒指内圈+高精确度±0.01%
精确度: ±0.01%
整机分辨率：130±5eV
探测器： 进口Fast SDD探测器
适用温度： 15℃～31℃
规格尺寸：455mm x 345mm x 350mm
样品腔：310×248×124(mm)
主体结构：高强度金属支架+铝合金外壳
内置工控电脑：NXP IMX8四核Cortex-A53 XRF专用电脑
热敏打印机：支持
天平/密度仪：支持
电池支持：否
样品可视：支持（铅玻璃）
电压： 100V～240V
额定功率：150W
重量：40公斤
输入电压：AC100～240V，50Hz
产品包装尺寸：770mm x 510mm x 400mm
产品尺寸：455mm x 345mm x 350mm
样品舱尺寸：306mm x 248mm x 124mm
额定功率：<150W
毛重：53KG
净重：38KG
噪音：50dB
使用环境：
温度：15℃～31℃
湿度：<70%（不结露）
性价比高
可以快速准确检测各种贵金属，应用广泛！
损检测
不会对珠宝首饰等被测样品造成任何损坏。
操作简单智能
独有一键测试功能，自动化检测无需配备专业人员
检测快速。
秒定性，7秒可得出直观结果。
便于携带
一体化设计，占用空间小，便于携带与管理。
安全耐用
具备反辐射功能，整机寿命超过10年
精准度高
可靠的检测数据。
操作安全
加装防辐射装置，主动保护操作人员安全。
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