XF-A5S Lite贵金属检测仪

XF-A5S^Lite是西凡仪器在2025年推出的一款光路全新升级的贵金属检测仪，可广泛应用于贵金属产业链。该产品采用美国进口定制Si-PIN探测器，内置十核CPU电脑，支持Smart FP算法，创新性的应用西凡第二代X射线与可见光共焦点垂直光路，可获得更小的实际照射焦斑。检测速度快，测试稳定性好、准确性高，性价比极高。