西凡镀层测厚行业解决方案

XF-P1镀层测厚仪XF-P1

XF-P1镀层测厚仪可支持最多四层检测,广泛应用于各种电镀、化学镀等行业。该产品使用进口定制Si-PIN探测器,内置四核CPU工控电脑,运行Smart FP算法。无需标样,可同时检测镀层厚度和成分,检测速度快,测试稳定性好、准确性高。

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XF-P3镀层测厚仪XF-P3

XF-P3镀层测厚仪可支持最多六层检测,广泛应用于各种电镀、化学镀、连接器等行业。该产品使用进口定制Fast SDD探测器,内置四核CPU工控电脑,运行Smart FP算法。无需标样,可同时检测镀层厚度和成分,检测速度快,测试稳定性好、准确性高。

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