镀层测厚仪XF-P1

XF-P1镀层测厚仪是西凡仪器面向镀层无损检测的一款X射线荧光光谱仪,可广泛应用于各种电镀、化学镀等行业。该产品使用进口定制Si-PIN探测器,内置四核CPU工控电脑,运行Smart FP算法。无需标样,可同时检测镀层厚度和成分,检测速度快,测试稳定性好、准确性高。

产品展示

 

产品特点

元素检测范围:铝(No.13)~铀(No.92)

可支持最多四层检测

可同时支持镀层厚度和成分检测

检测精度:0.001um(厚度)

±0.02%(成分)

定制TCP/IP协议API接口,支持外部主机对设备的控制、状态监控及数据采集

支持多点连续测试,测试效率高

三准直器自动切换

XY平面微动平台,轻松多点测试小样品

铅玻璃窗口,方便观察样品

 

产品规格

输入电压:交流100~240V,50Hz

产品包装尺寸:615mmx555mmx480mm

产品尺寸:500mmx400mmx368mm

样品腔尺寸:380mmx320mmx155mm

额定功率:<150W

毛重:59KG

净重:46KG

噪音:50dB

使用环境:

温度:15℃~31℃

湿度:<70%(不结露)

 

核心部件

探测器:AMPTEK定制版Si-PIN探测器

内置工控电脑:Intel I3四核+Windows11

高压电源:50KV/1mA数字高压电源

X射线管:50KV/1mA

窗口材料:铍窗

靶材:钨

焦点:ϕ 0.5mm

准直器:ϕ0.5mm/ ϕ1.0mm/ ϕ2.0mm

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