目前常用的镀层检测方法主要有楔切法、光截法、电解法、厚度差测量法、称重法、X射线荧光光谱法等。前五种方法要损坏产品或产品表面，是属于有损检测，测量手段繁琐，速度慢。而X射线荧光光谱法的技术相对成熟，可以达到即时分析,无损检测,不需要任何耗材,并且检测精度可以达到小数点后四位数，是我国普及型贵金属检测技术的发展方向。西凡仪器生产的镀层检测仪使用的就是X射线荧光光谱法这一先进的检测技术。
XRF原理：高压电源给X射线管供电，X射线管内的正负极之间产生电子流激发靶材，产生初级X射线（入射光子），来激发被测样品，样品中原子的内层电子被激发，产生空穴，外层电子填补空穴的过程产生二次X射线（这里指Ag:Ka射线），不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的波长 , 探测系统(探测器)测量这些放射出来的二次射线的能量及数量，转换为脉冲信号，经过信号处理后，传输到电脑端，软件算法计算谱形数据，得到样品中的各种元素的定性和定量结果，理论上可以测量元素周期表中Be以后的每一种元素。
在贵金属检测领域，传统的分析方法如试金石法、灰吹法、火试金法等都属于破坏性检测，具有消耗性和危险性，且样品的制备过程耗时更长。而X射线荧光光谱法的技术相对成熟，可以达到即时分析,无损检测,不需要任何耗材,并且检测精度可以达到小数点后四位数，是我国普及型贵金属检测技术的发展方向。西凡仪器制造的金银检测仪引用的就是X射线荧光光谱法这种先进的贵金属检测技术。
可以快速准确检测各种贵金属，应用广泛！
不会对珠宝首饰等被测样品造成任何损坏。
独有一键测试功能，自动化检测无需配备专业人员
3秒定性，7秒可得出直观结果。
一体化设计，占用空间小，便于携带与管理。
具备反辐射功能，整机寿命超过10年
可靠的检测数据。
加装防辐射装置，主动保护操作人员安全。
设备原理：X荧光能量色散
精确度: ±0.01%
整机分辨率：129±5eV
探测器： 进口SDD探测器
适用温度： -11~46℃
内置电容触摸LED屏：是（9.7吋OLED）
尺寸： 670×330×400mm
标签打印机：支持
普通打印机：支持
热敏打印机：支持
天平/密度仪：支持
电池支持：否
内置工控计算机：是
电压： 100V～240V
额定功率：150W
重量：33公斤
无损检测
贵金属的稀缺与宝贵，让灰吹法等传统的破坏性检测方法越来越不适用，市场上迫切需要一种快速、准确、无损的检测方法，而X射线荧光光谱法无非是很好的贵金属无损检测方法。
诚信展现
金银首饰的掺假现象，让顾客对商家产生了不信任，而商家借助金银检测仪可以将诚信经营的形象展现给顾客。
规避交易风险
社会上金银首饰掺假现象时有发生，不论是商家还是顾客都为此蒙受巨大的损失，而西凡仪器的金银检测仪可以让金银首饰的真实含量准确呈现，在这种公平公开的市场环境下，自然可以规避交易风险。
提升竞争力
客户的信任能给珠宝首饰店带来更多的营业收入，从而提升了市场竞争力。当前国内外许多珠宝店都配备有金银检测仪，这也是他们在行业里能保持强大竞争力的原因之一。
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